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吉時利Keithley 4200A-SCS 參數分析儀

使用 4200A-SCS參數分析儀(yi) (參數測試儀(yi) )加快各類材料、半導體(ti) 器件和先進工藝的開發,完成製程控製、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(ye) 內(nei) 性能***電學特性參數分析儀(yi) ,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈衝(chong) I-V曲線測量。

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吉時利Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
型號:

Keithley4200A-SCS-PKA Keithley4200A-SCS-PKB Keithley4200A-SCS-PKC Keithley4200-BTI-A

品牌:

Tektronix泰克 Keithley

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產(chan) 品詳情

4200A-SCS參數分析儀(yi) (參數測試儀(yi) )加快各類材料、半導體(ti) 器件和先進工藝的開發,完成製程控製、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(ye) 內(nei) 性能***電學特性參數分析儀(yi) ,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈衝(chong) I-V曲線測量。

Tektronix泰克 4200A-SCS 參數分析儀(yi) 是一種可以量身定製、全麵集成 的參數分析儀(yi) ,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈衝(chong) 式I-V 特性。作為(wei) 性能***的參數分析儀(yi) , 4200A-SCS 加快了半導體(ti) 、材料和工藝開發速度。

4200A-SCS ClariusTM 基於(yu) GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專(zhuan) 業(ye) 知識和數百項隨時 可以投入使用的應用測試,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程,快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數分析儀(yi) 可以根據不同用戶需求進行靈活配 置,不管是現在還是未來,都可以隨時對係統進行升級。通過 4200A-SCS 參數分析儀(yi) ,通往發現之路現在變得異常簡便。
 

主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

  • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
  • 100 fA測量分辨率
  • 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
  • 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
  • 100 μF負載電容
  • 四象限操作
  • 2 線或 4 線連接


C-V 多頻率電容單元(CVU)

  • AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
  • 1 kHz - 10 MHz 頻率範圍
  • ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源,可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
  • 選配 CVIV 多通道開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈衝式I-V 超快速脈衝測量單元(PMU)
  • 兩個獨立的或同步的高速脈衝 I-V 源和測量通道
  • 200 MSa/s,5 ns 采樣率
  • ±40 V (80 V p-p),±800 mA
  • 瞬態波形捕獲模式
  • 任意波形發生器 Segment ARB? 模式,支持多電平脈衝波形,10 ns 可編程分辨率


高壓脈衝(chong) 發生器單元(PGU)

  • 兩個高速脈衝電壓源通道
  • ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
  • 任意波形發生器 Segment ARB?模式,支持多電平脈衝波形,10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
  • 在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或抬起探針
  • 把 C-V測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
  • 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈衝 I-V 測量之間自動切換
  • 把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
  • 降低電纜電容效應

遠程前端放大器 / 開關(guan) 模塊 (RPM)

● 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈衝(chong) I-V 測量之間自動切換

● 把 4225-PMU 的電流靈敏度擴展到數十皮安

● 降低電纜電容效應
技術優(you) 勢:

1、隨時可以投入使用、可以修改的應用測試、項目和器件,縮短測試開發時間

2、內(nei) 置測量視頻的儀(yi) 器,測試視頻由全球應用工程師提供,分為(wei) 4種語言,縮短學習(xi) 周期

3、pin to pad接觸檢查,確保測量可靠

4、多種測量功能

5、數據顯示、分析和代數運算功能

6、專(zhuan) 家視頻,降低特性分析複雜度,觀看吉時利全球應用工程師製作的內(nei) 置視頻,迅速掌握應用,縮短學習(xi) 周期。數小時的專(zhuan) 家測量專(zhuan) 業(ye) 幫助,在發生意想不到的結果或對怎樣設置測試存在疑問時,將為(wei) 您提供指引。Clarius Software短專(zhuan) 家視頻支持四種語言(英語、中文、日語和韓語),可以迅速讓你洞察先機。

7、大量隨時可以使用的應用測試可供選擇,通過Clarius庫中裝備的450多項應用測試,您=可以選擇或修改預先定義(yi) 的應用測試,加快特性分析速度,或從(cong) 一開始簡便地創建自定義(yi) 測試。隻需三步,Clarius Software就可以引導新用戶像專(zhuan) 家一樣完成參數分析。

8、實時結果和參數,自動數據顯示、算法分析和實時參數提取功能,加快獲得所需信息的速度。不必擔心數據丟(diu) 失,因為(wei) 所有曆史數據都會(hui) 保存下來。

9、無需示波器檢驗脈衝(chong) 測量,脈衝(chong) 定時預覽模式可以簡便地查看脈衝(chong) 定時參數,確認脈衝(chong) 式I-V測試按希望的方式執行。使用瞬態I-V或波形捕獲模式,進行基於(yu) 時間的電流或電壓測量,而無需使用外部示波器。
應用方向:

MOSFET, BJT 晶體(ti) 管;材料特性分析;非易失性存儲(chu) 設備;電阻率係數和霍爾效應測量;NBTI/PBTI;III-V 族器件;失效分析;納米器件;二極管和 pn 聯結;太陽能電池;傳(chuan) 感器;MEMS器件;電化學;LED和OLED。

型號 描述
4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4211-SMU:兩個用於高容量設置的高功率 SMU
4200-PA:兩個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件
用於使用***矽 CMOS 技術進行的複雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
  • 1 個 4225-PMU 超快 I-V 模塊
  • 2 個 4225-RPM 遠程預放大器/開關模塊
  • 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
  • 超快 BTI 測試項目模塊
  • 布線
  •  

為材料、半導體器件和工藝開發提供***的參數分析儀


暫無評價(jia)

產品詳情

4200A-SCS參數分析儀(yi) (參數測試儀(yi) )加快各類材料、半導體(ti) 器件和先進工藝的開發,完成製程控製、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(ye) 內(nei) 性能***電學特性參數分析儀(yi) ,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈衝(chong) I-V曲線測量。

Tektronix泰克 4200A-SCS 參數分析儀(yi) 是一種可以量身定製、全麵集成 的參數分析儀(yi) ,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈衝(chong) 式I-V 特性。作為(wei) 性能***的參數分析儀(yi) , 4200A-SCS 加快了半導體(ti) 、材料和工藝開發速度。

4200A-SCS ClariusTM 基於(yu) GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專(zhuan) 業(ye) 知識和數百項隨時 可以投入使用的應用測試,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程,快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數分析儀(yi) 可以根據不同用戶需求進行靈活配 置,不管是現在還是未來,都可以隨時對係統進行升級。通過 4200A-SCS 參數分析儀(yi) ,通往發現之路現在變得異常簡便。
 

主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

  • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
  • 100 fA測量分辨率
  • 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
  • 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
  • 100 μF負載電容
  • 四象限操作
  • 2 線或 4 線連接


C-V 多頻率電容單元(CVU)

  • AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
  • 1 kHz - 10 MHz 頻率範圍
  • ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源,可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
  • 選配 CVIV 多通道開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈衝式I-V 超快速脈衝測量單元(PMU)
  • 兩個獨立的或同步的高速脈衝 I-V 源和測量通道
  • 200 MSa/s,5 ns 采樣率
  • ±40 V (80 V p-p),±800 mA
  • 瞬態波形捕獲模式
  • 任意波形發生器 Segment ARB? 模式,支持多電平脈衝波形,10 ns 可編程分辨率


高壓脈衝(chong) 發生器單元(PGU)

  • 兩個高速脈衝電壓源通道
  • ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
  • 任意波形發生器 Segment ARB?模式,支持多電平脈衝波形,10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
  • 在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或抬起探針
  • 把 C-V測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
  • 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈衝 I-V 測量之間自動切換
  • 把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
  • 降低電纜電容效應

遠程前端放大器 / 開關(guan) 模塊 (RPM)

● 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈衝(chong) I-V 測量之間自動切換

● 把 4225-PMU 的電流靈敏度擴展到數十皮安

● 降低電纜電容效應
技術優(you) 勢:

1、隨時可以投入使用、可以修改的應用測試、項目和器件,縮短測試開發時間

2、內(nei) 置測量視頻的儀(yi) 器,測試視頻由全球應用工程師提供,分為(wei) 4種語言,縮短學習(xi) 周期

3、pin to pad接觸檢查,確保測量可靠

4、多種測量功能

5、數據顯示、分析和代數運算功能

6、專(zhuan) 家視頻,降低特性分析複雜度,觀看吉時利全球應用工程師製作的內(nei) 置視頻,迅速掌握應用,縮短學習(xi) 周期。數小時的專(zhuan) 家測量專(zhuan) 業(ye) 幫助,在發生意想不到的結果或對怎樣設置測試存在疑問時,將為(wei) 您提供指引。Clarius Software短專(zhuan) 家視頻支持四種語言(英語、中文、日語和韓語),可以迅速讓你洞察先機。

7、大量隨時可以使用的應用測試可供選擇,通過Clarius庫中裝備的450多項應用測試,您=可以選擇或修改預先定義(yi) 的應用測試,加快特性分析速度,或從(cong) 一開始簡便地創建自定義(yi) 測試。隻需三步,Clarius Software就可以引導新用戶像專(zhuan) 家一樣完成參數分析。

8、實時結果和參數,自動數據顯示、算法分析和實時參數提取功能,加快獲得所需信息的速度。不必擔心數據丟(diu) 失,因為(wei) 所有曆史數據都會(hui) 保存下來。

9、無需示波器檢驗脈衝(chong) 測量,脈衝(chong) 定時預覽模式可以簡便地查看脈衝(chong) 定時參數,確認脈衝(chong) 式I-V測試按希望的方式執行。使用瞬態I-V或波形捕獲模式,進行基於(yu) 時間的電流或電壓測量,而無需使用外部示波器。
應用方向:

MOSFET, BJT 晶體(ti) 管;材料特性分析;非易失性存儲(chu) 設備;電阻率係數和霍爾效應測量;NBTI/PBTI;III-V 族器件;失效分析;納米器件;二極管和 pn 聯結;太陽能電池;傳(chuan) 感器;MEMS器件;電化學;LED和OLED。

型號 描述
4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用於高容量設置的中功率 SMU
4211-SMU:兩個用於高容量設置的高功率 SMU
4200-PA:兩個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件
用於使用***矽 CMOS 技術進行的複雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
  • 1 個 4225-PMU 超快 I-V 模塊
  • 2 個 4225-RPM 遠程預放大器/開關模塊
  • 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
  • 超快 BTI 測試項目模塊
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吉時利Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
使用 4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成製程控製、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能***電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈衝 I-V曲線測量。
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