CME-Mo301三光柵單色儀(yi) 焦距達300mm,與(yu) 光源、積分球、探測器以及鎖相放大器 SR830、SR540 光學斬波器、Keithley2400/2450/2600、電化學工作站等組合搭建。能夠實現任意光譜係統的解決(jue) 方案,涵蓋熒光、拉曼、內(nei) /外量子效率、透射/反射、吸收光譜以及光源發射光譜等諸多方麵的任意光譜係統解決(jue) 方案。雙級聯和三級聯光譜儀(yi) 的應用,使其在微弱光譜探測領域占據重要地位。其具備非對稱光路和靈活配置光柵等特性,能很好地契合多種光譜測試需求,為(wei) 相關(guan) 研究與(yu) 分析提供了堅實的工具支撐,助力科研工作者更精準地開展各種光學研究與(yu) 分析工作。
產(chan) 品優(you) 勢:
1. 采用非對稱水平 Czerny-Turner 光路,並進行消慧差設計,這有助於(yu) 改善譜線的對稱性,同時提高光學分辨率。此外,還具備消二次色散的設計,能夠有效抑製雜散光。
2. 可以根據具體(ti) 的需求,靈活地配置多塊光柵,以滿足不同的測試要求。
3. 配備 RS232 接口,通過計算機能夠控製光柵的轉換、濾光片的更換以及波長的掃描,從(cong) 而實現全自動的寬光譜測試。
4. 入光口能夠與(yu) 中科微能的各種光源進行配套使用,並且可以配備光纖接口,方便連接光源。
5. 可以與(yu) 公司的任意一款單點探測器以及其他附件相連接,同時還能夠連接線陣、麵陣探測器,將其用作攝譜儀(yi) 。其中,CME-Mo300/CME-Mo500/CME-Mo750 係列光譜儀(yi) 具有兩(liang) 個(ge) 可選的出光口位置,提供了更多的使用靈活性。
6. 采用精密的蝸輪蝸杆傳(chuan) 動,具有準確度高、重複性好、噪聲低以及使用壽命長等優(you) 點。
7. 狹縫設計獨特,能夠實現刃口的自動保護,並且寬度調節具有良好的對稱性,使用壽命長。
8. 配有充氮氣的專(zhuan) 用口,便於(yu) 在紫外和近紅外有大氣吸收譜的波段範圍內(nei) 使用,有效減少大氣對測試的影響。
9. 選材精細,工藝規範,製作精良,確保了良好的性能指標和批量一致性,為(wei) 用戶提供可靠的測試設備。
10. 光學室和機械傳(chuan) 動室嚴(yan) 格分開,有效避免了機械傳(chuan) 動室產(chan) 生的雜散光以及潤滑油微量揮發對光學件的汙染,保證了光學係統的穩定性和可靠性。
CME-Mo300係列三光柵單色儀(yi) 型號說明:

技術參數:

選配光柵:


應用軟件:
任意波長定位功能:用戶可自由定位目標波長,方便定點波長分析。能通過選擇已安裝光柵切換,並設定各光柵切換位置,有 256 個(ge) 等級的運行速度可選,還包括目標方式和相對移動方式等。在光譜儀(yi) 調試運行中,用戶可隨時停止其運行。
濾光片自動選擇功能:在波長掃描時,濾光片組會(hui) 自動選擇合適一檔,用戶可自由設定濾光片定位位置和工作範圍。
開機自動定位功能:用戶可設定儀(yi) 器開機定位位置,如上次關(guan) 機位置或指定位置。
光譜掃描功能:可一次控製多台設備,掃描方案多樣,能單光柵、連續光柵或跨光柵對各波段順序掃描,起始波長、掃描間隔、終止波長可由客戶自由設定,用戶可隨時終止掃描,對指定波長可多次采樣測穩定度,采集數據可同時圖譜和表格顯示,能自由放大、縮小、隱藏或顯示圖譜數據曲線,譜線數據可直接拷貝至 Excel 進行更多處理,用戶還可觀察任一曲線上任一點坐標值。
六檔濾光片輪:
六檔濾光片輪光譜儀(yi) 係列的配套產(chan) 品,能消除多級光譜,可與(yu) 公司生產(chan) 的係列單色儀(yi) /光譜儀(yi) 配合使用。啟用時可自動歸零定位並自動更換濾光片,非啟用時可手動控製。輪上安裝 3 塊長波通濾光片,其中一檔為(wei) 空,第二到第四檔標準配置濾光片材料分別為(wei) ZJB320、CB535、HWB850,使用範圍 185 - 1800nm,第五和六檔為(wei) 預留濾光片孔可安裝任意濾光片。
應用領域:
光譜分析:用於(yu) 分離和測量特定波長範圍內(nei) 的光,幫助研究物質的吸收、發射和散射特性,在化學分析、材料科學等領域有廣泛應用,例如通過測量物質對特定波長光的吸收來確定其化學成分。
光學研究:在光學實驗中,單色儀(yi) 可提供單色光,用於(yu) 研究光與(yu) 物質的相互作用、光學器件的特性等,如測量光學濾波器的傳(chuan) 輸特性。
醫學領域:在醫學成像技術中,如熒光光譜成像,單色儀(yi) 可提供特定波長的激發光,用於(yu) 檢測生物組織中的熒光信號,幫助診斷疾病等。
工業(ye) 檢測:可用於(yu) 檢測材料的質量和缺陷,例如通過檢測特定波長下材料的反射或透射特性來判斷其均勻性、雜質等情況。
天文學:用於(yu) 研究天體(ti) 的光譜,幫助了解天體(ti) 的物理性質、化學成分等,是天文學研究的重要工具之一。