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CS2350M雙恒電位儀

可以實現2個(ge) 通道同步測試,搭配旋轉環盤電極(RRDE)使用。
● 雙通道電化學工作站,各通道獨立測試,性價(jia) 比高
● 經典應用:盤環電極測試(RRDE)、氫擴散測試(HDT)
● 全浮地模式,性價(jia) 比高
● 電壓控製範圍:±10V,槽壓為(wei) ±21V
● 電流控製範圍:±1A(可擴展至20A/40A/100A)
● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)

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CS2350M雙恒電位儀
型號:

CS2350M

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產(chan) 品詳情

產品介紹

     CS2350M雙恒電位儀(yi) 內(nei) 置兩(liang) 套恒電位/恒電流儀(yi) ,每套恒電位儀(yi) 各有一套輔助、工作和參比電極輸出,並完全由CS Studio測試軟件來協調輸出電位/電流,CS2350M是真正意義(yi) 上的雙通道電化學工作站。
具體(ti) 應用於(yu) :
    1. 雙通道獨立使用,可同時進行兩(liang) 組常規電化學測試;
    2. 雙通道組合使用,可用於(yu) 電化學分析四電極工作體(ti) 係,尤其在氧還原(ORR)中間產(chan) 物收集、金屬氫擴散測試有廣泛應用。
 
    技術優(you) 勢

    CS2350M雙恒電位儀(yi) 不僅(jin) 具有CS單通道係列高精度、寬量程以及強大的數據分析處理功能,而且在原有產(chan) 品的基礎上創新突破。 CS2350M雙通道硬件設計可以實現兩(liang) 組實驗體(ti) 係的測試要求,同時,軟件的組合編程功能大大提高了實驗的效率。

    典型案例

    1. 雙通道獨立測試
    使用專(zhuan) 用的電池測試夾,配合軟件的組合編程功能,給電池能源領域的用戶帶來更高效、更智能的測試體(ti) 驗。
 

圖1.雙通道獨立測量參數設置界麵
 

    2.配合旋轉環盤電極(RRDE)用於(yu) 研究氧化還原體(ti) 係:
    在測量圓盤電極極化曲線的同時,將環電壓設置為(wei) 恒電位,控製圓環電極在固定的極化電勢,用以檢測圓盤電極上產(chan) 生的反應中間物,該方法也成為(wei) 檢測反應中間物和研究電極反應機理的典型流體(ti) 動力學方法。氧還原反應的電子轉移數和相應的雙氧水(中間產(chan) 物)產(chan) 率可分別通過公式測得:


 

其中知Idisk和Iring分別為(wei) 測得的盤電流、環電流,電極收集效率N由盤環電極參數決(jue) 定(常數)。將測試結果代入以上公式即求得實際反應的電子轉移數n 和H2O2(%)所占比例。

圖2.氧還原(ORR)中間產(chan) 物檢測
 

    3. 金屬中氫擴散測試:
    兩(liang) 個(ge) 恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池,通過左側(ce) 電解池的陰極充氫和右側(ce) 電解的氫原子陽極氧化電流測量,進而計算氫原子在金屬中擴散係數和氫通量。



圖3.金屬中氫擴散控製

技術指標

硬件參數指標

 雙恒電位儀:
單恒電位電位控製範圍:±10V,雙恒電位儀電位控製範圍:±10V
 恒電流控製範圍:±1A(可擴展至20A/40A/100A)
 電位控製精度:0.1%  電流控製精度:0.1%
 電位靈敏度:1μV  電流靈敏度:1pA(可選100fA)
 電位上升時間:1μs  電流量程:2A~2nA 10檔
 參比電極輸入阻抗:1013Ω||8pF  ***輸出電流:±1A(可擴展至20A/40A/100A)
 槽壓輸出:±21V  電流掃描增量:1mA@1A/ms
 CV和LSV掃描速度:0.001mV~10,000V/s  電位掃描電位增量:0.076mV @1V/ms
 CA和CC脈衝寬度:0.0001~65,000s   DPV和NPV脈衝寬度:0.0001~1000s
 SWV頻率:0.001~100KHz  CV的最小電位增量:0.020mV
 AD數據采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz  電流與電位量程:自動設置
 DA分辨率:16bit,建立時間:1μs  低通濾波器 :8段可編程
 通訊接口:網口  儀器淨重:7.5Kg
 外形尺寸(mm):365(W)X338(D)X140(H)


電化學阻抗測量指標

 信號發生器
 頻率響應:10μHz~1MHz  交流信號幅值:0mV~2500mV
 頻率精確度:0.005%  信號分辨率:0.1mV RMS
 DDS輸出阻抗:50Ω  直流偏壓:-10V~+10V
 正弦波失真率:<1%  波形:正弦波,三角波,方波
 掃描方式:對數/線性,增加/下降
 信號分析器
 ***積分時間:106個循環或者105s  測量時間延遲:0~105s
 最小積分時間:10ms或者一個循環的最長時間
 直流偏置補償
 電位補償範圍:-10V~+10V  電流補償範圍:-1A~+1A
 帶寬調整:自動或手動設置, 共8級可調


儀(yi) 器配置

1)儀(yi) 器主機1台
2)CS Studio測試與(yu) 分析軟件1套
3)模擬電解池1個(ge)
4)電源線、網線各1條
5)電極電纜線2條
6)電腦(選配*)

功能方法
穩態極化
開路電位測量(OCP)、恒電位極化(i-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍(VSTEP)、恒電流階躍(ISTEP)
計時分析
計時電位法(CP)、計時電流法(CA)、計時電量法(CC)
伏安分析
線性掃描伏安法(LSV)、循環伏安法(CV)、階梯循環伏安法(SCV)、方波伏安法(SWV)、差分脈衝伏安法(DPV)、常規脈衝伏安法(NPV)、常規差分脈衝伏安法(DNPV)、差分脈衝電流檢測法(DPA)、雙差分脈衝電流檢測法(DDPA)、三脈衝電流檢測法(TPA)、積分脈衝電流檢測法(ipads)、交流伏安法(ACV)、二次諧波交流伏安(SHACV)、傅立葉變換交流伏安(FTACV)
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安、差分脈衝溶出伏安、常規脈衝溶出伏安、常規差分脈衝溶出伏安、交流溶出伏安
交流阻抗
頻率掃描-電位控製模式(EIS-V) 、 頻率掃描-電流控製模式(EIS-I) 、 電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) 、 時間掃描-電位控製模式、 時間掃描-電流控製模式
腐蝕測量
循環極化曲線(CPP)、線性極化曲線(LPR)、動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)
電池測試
電池充放電測試、恒電流充放電(GCD)、恒電位充放電(PCD)、恒電位間歇滴定技術(PITT)、恒電流間歇滴定技術(GITT)
雙恒測量
氫擴散測試(HDT)、盤環電極測試(RRDE)、法拉第效率測試(FET)
擴展測量
盤環電極測試、數字記錄儀、波形發生器、圓盤電機控製、其它外設擴展端口(定製)


暫無評價(jia)

產品詳情
產品介紹

     CS2350M雙恒電位儀(yi) 內(nei) 置兩(liang) 套恒電位/恒電流儀(yi) ,每套恒電位儀(yi) 各有一套輔助、工作和參比電極輸出,並完全由CS Studio測試軟件來協調輸出電位/電流,CS2350M是真正意義(yi) 上的雙通道電化學工作站。
具體(ti) 應用於(yu) :
    1. 雙通道獨立使用,可同時進行兩(liang) 組常規電化學測試;
    2. 雙通道組合使用,可用於(yu) 電化學分析四電極工作體(ti) 係,尤其在氧還原(ORR)中間產(chan) 物收集、金屬氫擴散測試有廣泛應用。
 
    技術優(you) 勢

    CS2350M雙恒電位儀(yi) 不僅(jin) 具有CS單通道係列高精度、寬量程以及強大的數據分析處理功能,而且在原有產(chan) 品的基礎上創新突破。 CS2350M雙通道硬件設計可以實現兩(liang) 組實驗體(ti) 係的測試要求,同時,軟件的組合編程功能大大提高了實驗的效率。

    典型案例

    1. 雙通道獨立測試
    使用專(zhuan) 用的電池測試夾,配合軟件的組合編程功能,給電池能源領域的用戶帶來更高效、更智能的測試體(ti) 驗。
 

圖1.雙通道獨立測量參數設置界麵
 

    2.配合旋轉環盤電極(RRDE)用於(yu) 研究氧化還原體(ti) 係:
    在測量圓盤電極極化曲線的同時,將環電壓設置為(wei) 恒電位,控製圓環電極在固定的極化電勢,用以檢測圓盤電極上產(chan) 生的反應中間物,該方法也成為(wei) 檢測反應中間物和研究電極反應機理的典型流體(ti) 動力學方法。氧還原反應的電子轉移數和相應的雙氧水(中間產(chan) 物)產(chan) 率可分別通過公式測得:


 

其中知Idisk和Iring分別為(wei) 測得的盤電流、環電流,電極收集效率N由盤環電極參數決(jue) 定(常數)。將測試結果代入以上公式即求得實際反應的電子轉移數n 和H2O2(%)所占比例。

圖2.氧還原(ORR)中間產(chan) 物檢測
 

    3. 金屬中氫擴散測試:
    兩(liang) 個(ge) 恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池,通過左側(ce) 電解池的陰極充氫和右側(ce) 電解的氫原子陽極氧化電流測量,進而計算氫原子在金屬中擴散係數和氫通量。



圖3.金屬中氫擴散控製

技術指標

硬件參數指標

 雙恒電位儀:
單恒電位電位控製範圍:±10V,雙恒電位儀電位控製範圍:±10V
 恒電流控製範圍:±1A(可擴展至20A/40A/100A)
 電位控製精度:0.1%  電流控製精度:0.1%
 電位靈敏度:1μV  電流靈敏度:1pA(可選100fA)
 電位上升時間:1μs  電流量程:2A~2nA 10檔
 參比電極輸入阻抗:1013Ω||8pF  ***輸出電流:±1A(可擴展至20A/40A/100A)
 槽壓輸出:±21V  電流掃描增量:1mA@1A/ms
 CV和LSV掃描速度:0.001mV~10,000V/s  電位掃描電位增量:0.076mV @1V/ms
 CA和CC脈衝寬度:0.0001~65,000s   DPV和NPV脈衝寬度:0.0001~1000s
 SWV頻率:0.001~100KHz  CV的最小電位增量:0.020mV
 AD數據采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz  電流與電位量程:自動設置
 DA分辨率:16bit,建立時間:1μs  低通濾波器 :8段可編程
 通訊接口:網口  儀器淨重:7.5Kg
 外形尺寸(mm):365(W)X338(D)X140(H)


電化學阻抗測量指標

 信號發生器
 頻率響應:10μHz~1MHz  交流信號幅值:0mV~2500mV
 頻率精確度:0.005%  信號分辨率:0.1mV RMS
 DDS輸出阻抗:50Ω  直流偏壓:-10V~+10V
 正弦波失真率:<1%  波形:正弦波,三角波,方波
 掃描方式:對數/線性,增加/下降
 信號分析器
 ***積分時間:106個循環或者105s  測量時間延遲:0~105s
 最小積分時間:10ms或者一個循環的最長時間
 直流偏置補償
 電位補償範圍:-10V~+10V  電流補償範圍:-1A~+1A
 帶寬調整:自動或手動設置, 共8級可調


儀(yi) 器配置

1)儀(yi) 器主機1台
2)CS Studio測試與(yu) 分析軟件1套
3)模擬電解池1個(ge)
4)電源線、網線各1條
5)電極電纜線2條
6)電腦(選配*)

功能方法
穩態極化
開路電位測量(OCP)、恒電位極化(i-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍(VSTEP)、恒電流階躍(ISTEP)
計時分析
計時電位法(CP)、計時電流法(CA)、計時電量法(CC)
伏安分析
線性掃描伏安法(LSV)、循環伏安法(CV)、階梯循環伏安法(SCV)、方波伏安法(SWV)、差分脈衝伏安法(DPV)、常規脈衝伏安法(NPV)、常規差分脈衝伏安法(DNPV)、差分脈衝電流檢測法(DPA)、雙差分脈衝電流檢測法(DDPA)、三脈衝電流檢測法(TPA)、積分脈衝電流檢測法(ipads)、交流伏安法(ACV)、二次諧波交流伏安(SHACV)、傅立葉變換交流伏安(FTACV)
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安、差分脈衝溶出伏安、常規脈衝溶出伏安、常規差分脈衝溶出伏安、交流溶出伏安
交流阻抗
頻率掃描-電位控製模式(EIS-V) 、 頻率掃描-電流控製模式(EIS-I) 、 電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) 、 時間掃描-電位控製模式、 時間掃描-電流控製模式
腐蝕測量
循環極化曲線(CPP)、線性極化曲線(LPR)、動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)
電池測試
電池充放電測試、恒電流充放電(GCD)、恒電位充放電(PCD)、恒電位間歇滴定技術(PITT)、恒電流間歇滴定技術(GITT)
雙恒測量
氫擴散測試(HDT)、盤環電極測試(RRDE)、法拉第效率測試(FET)
擴展測量
盤環電極測試、數字記錄儀、波形發生器、圓盤電機控製、其它外設擴展端口(定製)


CS2350M雙恒電位儀
可以實現2個通道同步測試,搭配旋轉環盤電極(RRDE)使用。
● 雙通道電化學工作站,各通道獨立測試,性價比高
● 經典應用:盤環電極測試(RRDE)、氫擴散測試(HDT)
● 全浮地模式,性價比高
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● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)
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