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低溫真空探針台 手套箱

低溫真空探針台可以對器件進行非破壞性的測試,器件的***尺寸可達到51mm(2inch)。它可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個(ge) 測試平台。一般來講,納米電子材料、量子線、量子點和半導體(ti) 材料是在CPX在進行測量的比較典型的材料。係統的探針、測試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從(cong) 而滿足不同用戶的需要。

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低溫真空探針台         手套箱

產(chan) 品詳情 技術參數

        低溫真空探針台的溫度變化範圍4.2K到475K,加低溫選件後,溫度可降低到1.5K,加入高溫選件,可提供的溫度變化範圍:20K-675K。係統需要使用液氦或液氮實現變溫,防輻射屏大大降低了黑體(ti) 輻射,提高了製冷效率。冷頭上安裝兩(liang) 個(ge) 加熱器,減小了樣品的溫度梯度,加上防輻射屏上的加熱器,整個(ge) 係統可以實現快速的變溫。

        低溫真空探針台最多具有6個(ge) 可以進行微調整的探針臂,每個(ge) 探針臂上的探針都可以進行3維方向上的定位。專(zhuan) 用的探針根據尺寸和材料不同,分為(wei) 多種類型,探針減少了熱質量,優(you) 化了和器件的電接觸性。每個(ge) 探針都直接和冷頭進行導熱,這樣就減小了探針對樣品的熱傳(chuan) 遞。

    ●    係統可使用液氮或液氦製冷,基本係統溫度範圍:4.2 K to 475 K

    ●      加入溫度選件,溫度範圍可到1.5 K to 400 K 和 20 K to 675 K

    ●      樣品台可進行麵內(nei) ±5°旋轉

    ●      測量DC到67GHz

    ●      ***測試樣品尺寸51mm直徑

    ●      最多可使用6個(ge) 探針臂

    ●      探針臂傳(chuan) 上安裝溫度感器進行溫度監測

    ●      可提供Load-lock選件

    ●      控溫穩定性:±50mK

    ●      探針臂3軸方向可調節,並可進行麵內(nei) ±5°旋轉

    ●      采用高真空選件,係統真空度可達到10-7 torr

    ●      電纜、屏蔽和Guard保護進一步減少了電噪聲和熱輻射損失

    ●      可提供不同的選件和附件來滿足特定的科研測試需要


低溫真空探針台技術參數

溫度
溫度範圍標準溫度範圍:4.2K到475K

低溫選件溫度範圍:1.7K-400K或2K-400K

高溫選件溫度範圍:20K到675K
溫度穩定性±50mK
係統降溫時間
室溫到10K以內30分鍾
室溫到1K以內且輻射防護屏達到穩定1小時15分鍾
加熱器溫度控製
樣品台50W
輻射防護屏2個100W和1個50W
探針臂隻監視溫度
探針臂行程及分辨率
X軸51mm(2inch),20μm分辨率
Y軸25mm (1inch),10μm分辨率
Z軸18mm (0.7inch),10μm分辨率
係統真空指標
抽真空時間係統冷卻前抽真空到10-3 Torr,需要20分鍾
室溫真空度10-4Torr
光學分辨率-顯微鏡
7:1 Zoom4微米


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產品詳情

        低溫真空探針台的溫度變化範圍4.2K到475K,加低溫選件後,溫度可降低到1.5K,加入高溫選件,可提供的溫度變化範圍:20K-675K。係統需要使用液氦或液氮實現變溫,防輻射屏大大降低了黑體(ti) 輻射,提高了製冷效率。冷頭上安裝兩(liang) 個(ge) 加熱器,減小了樣品的溫度梯度,加上防輻射屏上的加熱器,整個(ge) 係統可以實現快速的變溫。

        低溫真空探針台最多具有6個(ge) 可以進行微調整的探針臂,每個(ge) 探針臂上的探針都可以進行3維方向上的定位。專(zhuan) 用的探針根據尺寸和材料不同,分為(wei) 多種類型,探針減少了熱質量,優(you) 化了和器件的電接觸性。每個(ge) 探針都直接和冷頭進行導熱,這樣就減小了探針對樣品的熱傳(chuan) 遞。

    ●    係統可使用液氮或液氦製冷,基本係統溫度範圍:4.2 K to 475 K

    ●      加入溫度選件,溫度範圍可到1.5 K to 400 K 和 20 K to 675 K

    ●      樣品台可進行麵內(nei) ±5°旋轉

    ●      測量DC到67GHz

    ●      ***測試樣品尺寸51mm直徑

    ●      最多可使用6個(ge) 探針臂

    ●      探針臂傳(chuan) 上安裝溫度感器進行溫度監測

    ●      可提供Load-lock選件

    ●      控溫穩定性:±50mK

    ●      探針臂3軸方向可調節,並可進行麵內(nei) ±5°旋轉

    ●      采用高真空選件,係統真空度可達到10-7 torr

    ●      電纜、屏蔽和Guard保護進一步減少了電噪聲和熱輻射損失

    ●      可提供不同的選件和附件來滿足特定的科研測試需要


技術參數

低溫真空探針台技術參數

溫度
溫度範圍標準溫度範圍:4.2K到475K

低溫選件溫度範圍:1.7K-400K或2K-400K

高溫選件溫度範圍:20K到675K
溫度穩定性±50mK
係統降溫時間
室溫到10K以內30分鍾
室溫到1K以內且輻射防護屏達到穩定1小時15分鍾
加熱器溫度控製
樣品台50W
輻射防護屏2個100W和1個50W
探針臂隻監視溫度
探針臂行程及分辨率
X軸51mm(2inch),20μm分辨率
Y軸25mm (1inch),10μm分辨率
Z軸18mm (0.7inch),10μm分辨率
係統真空指標
抽真空時間係統冷卻前抽真空到10-3 Torr,需要20分鍾
室溫真空度10-4Torr
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低溫真空探針台可以對器件進行非破壞性的測試,器件的***尺寸可達到51mm(2inch)。它可以對材料或器件的電學特性測量、光電特性測量、參數測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量提供一個測試平台。一般來講,納米電子材料、量子線、量子點和半導體材料是在CPX在進行測量的比較典型的材料。係統的探針、測試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從而滿足不同用戶的需要。
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