CME-EL電致發光外量子效率測量係統(EQE)是一種緊湊,操作便捷,可在手套箱內(nei) 完成搭建。發光材料的特征體(ti) 現在它們(men) 的熒光量子產(chan) 率。對於(yu) 諸如有機和無機LED的發光器件,相應的物理特征表現值是外量子效率,通常通過電致發光(ELelectroluminescence)方法測量。
主要特點:
l可以測量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931;
l光譜儀(yi) 係統采用製冷型CCD信噪比高、雜散光低;
l體(ti) 積小巧:便於(yu) 靈活使用及運輸;
l堅固、緊湊的設計,可以***限度減少實驗室空間;
l專(zhuan) 業(ye) 軟件,操作簡單;軟件顯示:J-V曲線、L-J曲線、LmEff-J曲線、EQE-J曲線、CIE1931 XYGraph曲線。
技術參數
光譜儀(yi) | 型號 | CME-QE2000(可選) |
光譜範圍(nm) | 300-1100nm |
光譜儀(yi) 分光元件 | 全息成像光柵 |
感光元件 | 電子冷卻型CCD影像感測器 |
信噪比 | 1000:01:00 |
分辨率 | 2.5nm(FWHM) |
積分球 | 尺寸 | 100mm |
塗層材質 | Sperctralon |
源表 | 型號 | Keithley2400 |
光纖 | 芯徑 | 800um |
